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北京大学冯建华教授应邀来校作学术报告
作者： 来源：自动化学院 时间：2011-09-13
9月10日下午，应自动化学院邀请，北京大学微电子学研究院SOC测试中心主任冯建华教授来校作题为“VLSI测试和可测试性设计研究与进展”的学术报告，自动化学院部分师生聆听报告。
冯建华教授在报告中就测试技术的概念、特点和发展趋势等作了深入讲解，指出随着微电子学芯片技术的发展，测试技术面临着越来越大的挑战，测试手段和技术也日益复杂。冯建华教授还详细介绍了测试矢量生成技术、可测试性设计、故障模型、IDDQ测试、SOC测试等技术，并对北京大学SOC实验室的研究工作作了简要介绍。
讲座尾声，在场师生就各自感兴趣的问题与冯建华教授进行了交流。（自动化学院）
